結合飛納臺式電鏡粒度分析測量系統，以快速、簡便的方式實現顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

超越光學顯微鏡分析，*自動化的顆粒統計分析測量系統把可視化分析提高到了一個新臺階，這將在粉末設計、開發和質量控制中產生進一步的探索和創新。

柱狀圖、散點圖和生成的圖像可以選定格式導出，并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數量分布或體積分布。

散點圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來，以揭示相關性和趨勢。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統支持用戶獲得他們需要的數據。因此，顆粒系統加快了顆粒分析速度，提高了產品質量。

顆粒分析

• 顆粒尺寸范圍：100 nm – 0.1 mm

• 顆粒探測速度：高達 1000 個/分鐘

• 測量屬性：大小、形狀、數量

復納科學儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，負責荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售，提供專業的和測試服務，飛納電鏡擁有專業的服務團隊，提供優化的解決方案；飛納電鏡在上海、北京、廣州設立了測試中心和售后服務中心，目前飛納在中國已經擁有超過 1000 名用戶。