結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統，以快速、簡便的方式實現顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。